Bericht | 12.06.2009

Angewandte Physik

Ich sehe was, was du nicht siehst

Die Weiterentwicklung der Rasterkraftmikroskopie hat in den vergangenen Jahren große Fortschritte gemacht. So konnte die chemische Empfindlichkeit, aber auch die Aufzeichnung elektrischer Eigenschaften bis in den atomaren Bereich hinein verbessert werden. Jetzt setzen Wissenschaftler noch eins drauf: Sie sind in der Lage, den elektrischen Zustand einzelner Atome auf eine Elementarladung genau zu kontrollieren.

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